芯片開封的定義芯片開封，即Decap，是一種對(duì)完整封裝的集成電路（IC）芯片進(jìn)行局部處理的工藝。其目的是去除芯片的封裝外殼，暴露出芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)，同時(shí)確保芯片功能不受損。芯片開封是芯片故障分析實(shí)驗(yàn)的重要準(zhǔn)備環(huán)節(jié)，能夠保護(hù)芯片的Die、bond pads、bond wires及l(fā)ead等關(guān)鍵部分，為后續(xù)的失效分析測(cè)試提供便利，便于進(jìn)行熱點(diǎn)定位、聚焦離子束（FIB）等測(cè)試操作。芯片開封的方法1.激光開封激光開封是利用激光束的能量作用于芯片塑封表面，通過(guò)氣化作用去除器件填充料。這種方法具有顯著優(yōu)勢(shì)，操作速度快，過(guò)程簡(jiǎn)便，且相對(duì)安全，無(wú)危險(xiǎn)性。激光開封能夠精準(zhǔn)地去除封裝材料，而不會(huì)對(duì)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成不必要的損傷，因此在芯片開封領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。。2.化學(xué)腐蝕化學(xué)腐蝕則依賴于特定的化學(xué)試劑，如濃硫酸、
