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國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，廣東省崧盛電源技術(shù)有限公司取得一項(xiàng)名為“一種快速檢測(cè)VCC掉電的控制電路及開關(guān)電源”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223758163U，申請(qǐng)日期為2024年12月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型涉及一種快速檢測(cè)VCC掉電的控制電路及開關(guān)電源，包括：供電輔助源、掉電檢測(cè)模塊以及信號(hào)處理模塊；掉電檢測(cè)模塊的檢測(cè)端與供電輔助源連接，掉電檢測(cè)模塊的輸出端與信號(hào)處理模塊的檢測(cè)端連接；供電輔助源用于產(chǎn)生VCC供電信號(hào)；掉電檢測(cè)模塊用于對(duì)VCC供電信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，并輸出VCC檢測(cè)信號(hào)；信號(hào)處理模塊用于接收VCC檢測(cè)信號(hào)并基于VCC檢測(cè)信號(hào)檢測(cè)VCC供電信號(hào)的狀態(tài)。本實(shí)用新型在不需要開關(guān)管、或者比較器等檢測(cè)器件的條件下，即可實(shí)現(xiàn)對(duì)VCC供電信號(hào)掉電進(jìn)行快速檢測(cè)，線路簡(jiǎn)單，成本低，功耗低，且穩(wěn)定性好。

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，聯(lián)正電子（深圳）有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種功率變換器以及包括其的不間斷電源”的專利，公開號(hào)CN121216884A，申請(qǐng)日期為2024年6月。專利摘要顯示，本發(fā)明提供了一種功率變換器以及包括其的不間斷電源。功率變換器包括：輸入端被配置為選擇性地連接至交流電源或者直流電源。輸出端被配置為連接至正直流母線和負(fù)直流母線。電感組件連接在輸入端與功率變換單元的第一端之間。功率變換單元的第二端連接至輸出端。功率變換單元被配置為能夠選擇性地實(shí)現(xiàn)AC-DC變換或者DC-DC變換?？刂茊卧糜诳刂乒β首儞Q單元在第一模態(tài)與第二模態(tài)之間的直接切換，和/或第三模態(tài)與第四模態(tài)之間的直接切換，實(shí)現(xiàn)DC-DC變換中正半周期與負(fù)半周期之間的切換。本發(fā)明在正半周期與負(fù)半周期之間的切換過程中不會(huì)產(chǎn)生其他

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，蘇州騰圣技術(shù)有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種全橋逆變電路的軟開關(guān)方法及其電路”的專利，公開號(hào)CN121261512A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明公開了一種全橋逆變電路的軟開關(guān)方法及其電路，涉及電力電子變換器控制技術(shù)領(lǐng)域，旨在解決現(xiàn)有H4逆變器軟開關(guān)技術(shù)存在的輕載失效、輔助電路復(fù)雜、EMI干擾等問題。軟開關(guān)方法通過三階段實(shí)現(xiàn)：交流正半周內(nèi)，開關(guān)S1、S4導(dǎo)通使電感儲(chǔ)能并向負(fù)載供能；開關(guān)S1關(guān)斷后電感續(xù)流；續(xù)流結(jié)束后電容C6反向?yàn)殡姼谐潆娨l(fā)諧振，通過兩條路徑分別為開關(guān)的寄生電容充放電，待充放電完成時(shí)開通S1，實(shí)現(xiàn)零電壓開通。本發(fā)明可使開關(guān)損耗降低60%以上，系統(tǒng)效率提升至96.5%，傳導(dǎo)噪聲降低10dB以上，在20%?100%負(fù)載范圍內(nèi)穩(wěn)定實(shí)現(xiàn)ZVS，且

證券之星消息，根據(jù)天眼查APP數(shù)據(jù)顯示晶豐明源（688368）新獲得一項(xiàng)發(fā)明專利授權(quán)，專利名為“過零檢測(cè)電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測(cè)方法”，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N201910101274.2，授權(quán)日為2026年1月23日。專利摘要：本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N過零檢測(cè)電路、芯片、智能開關(guān)及過零檢測(cè)方法。其中，所述過零檢測(cè)電路用于檢測(cè)流經(jīng)一交流電線路上的交流電信號(hào)的過零相位，包括：檢測(cè)信號(hào)生成電路，用于間隔地產(chǎn)生反映交流電信號(hào)的檢測(cè)信號(hào)；其中所述檢測(cè)信號(hào)至少反映在預(yù)設(shè)的過零相位區(qū)間內(nèi)的交流電信號(hào)；檢測(cè)電路，與所述檢測(cè)信號(hào)生成電路相連，用于基于所述過零相位區(qū)間檢測(cè)所述檢測(cè)信號(hào)，并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果輸出過零檢測(cè)信號(hào)。本申請(qǐng)利用間隔產(chǎn)生對(duì)應(yīng)交流電信號(hào)的檢測(cè)信號(hào)，減少過零檢測(cè)電路中采樣電器件和檢測(cè)電器件的工作時(shí)長(zhǎng)，由此減少過

在現(xiàn)代電子設(shè)備設(shè)計(jì)中，復(fù)位電路作為系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵保障，EY410-46CDEC短按輸出1.6秒脈沖復(fù)位芯片以其精準(zhǔn)的時(shí)序控制和超低功耗特性，成為消費(fèi)電子、智能家居及便攜式設(shè)備的理想選擇。這款采用SOT23-6封裝的微型芯片，通過輕觸開關(guān)實(shí)現(xiàn)了雙路輸出的智能復(fù)位功能，其技術(shù)細(xì)節(jié)和應(yīng)用價(jià)值值得深入探討。一、核心功能與工作邏輯EY410-46CDEC的設(shè)計(jì)遵循嚴(yán)格的時(shí)序控制邏輯。上電初始化時(shí)，Out1默認(rèn)輸出低電平（0V），Out2保持高電平（VDD），這種狀態(tài)為后續(xù)復(fù)位操作提供明確的基準(zhǔn)點(diǎn)。當(dāng)用戶短按Key觸發(fā)開關(guān)時(shí)，芯片內(nèi)部計(jì)時(shí)器立即啟動(dòng)1.6秒的精確延時(shí)：Out1從低電平跳變?yōu)楦唠娖矫}沖Out2同步輸出反相的低電平脈沖脈沖結(jié)束后自動(dòng)恢復(fù)初始狀態(tài)值得注意的是，芯片具備"觸發(fā)鎖定"機(jī)制——在1

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，上海翃視科技有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“硅基液晶芯片的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)方法及硅基液晶芯片”的專利，公開號(hào)CN121034243A，申請(qǐng)日期為2025年8月。專利摘要顯示，本發(fā)明揭示了一種硅基液晶芯片的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)方法及硅基液晶芯片，所述硅基液晶芯片包括一像素矩陣，所述像素矩陣具多行多列像素組成，所述硅基液晶芯片的數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)方法通過行信號(hào)以行為單位對(duì)像素矩陣進(jìn)行驅(qū)動(dòng)，并且所述硅基液晶芯片包括一列選復(fù)用電路，所述列選復(fù)用電路包括多個(gè)選擇開關(guān)，每一選擇開關(guān)與所述像素矩陣的每一列對(duì)應(yīng)，通過控制上述列選復(fù)用電路的多個(gè)選擇開關(guān)的導(dǎo)通順序而驅(qū)動(dòng)所述像素矩陣對(duì)應(yīng)的列，其中所述列選復(fù)用電路采用輪轉(zhuǎn)方式控制所述多個(gè)選擇開關(guān)的導(dǎo)通順序。天眼查資料顯示，上海翃視科技有限公司，成立于2023年，位于上海市，是一家

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，深圳市嘉拓微科技有限公司取得一項(xiàng)名為“一種設(shè)有散熱結(jié)構(gòu)的電源芯片”的專利，授權(quán)公告號(hào)CN223816409U，申請(qǐng)日期為2025年2月。專利摘要顯示，本實(shí)用新型公開了一種設(shè)有散熱結(jié)構(gòu)的電源芯片，涉及電子元件技術(shù)領(lǐng)域。包括塑封外殼，塑封外殼中安裝有引線框架，且引線框架的兩側(cè)設(shè)有引腳，引線框架上設(shè)有焊盤，且焊盤上焊接有電源晶片，焊盤的底部安裝有內(nèi)均熱板，塑封外殼的底部嵌裝有導(dǎo)熱銅片，且導(dǎo)熱銅片的頂部通過導(dǎo)熱膏與內(nèi)均熱板的底部相貼合。該設(shè)有散熱結(jié)構(gòu)的電源芯片，在引線框架的焊盤底部設(shè)置有內(nèi)均熱板，在塑封外殼的頂部設(shè)置有外均熱板，根據(jù)均熱板的散熱特性，其能夠均勻分布電源晶片運(yùn)行時(shí)的熱量，防止局部過熱，有助于提高電源晶片的安全性和使用壽命，通過導(dǎo)熱介質(zhì)將熱量傳導(dǎo)至外界環(huán)境中，實(shí)現(xiàn)

國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局信息顯示，安測(cè)半導(dǎo)體技術(shù)（義烏）有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“一種電源芯片測(cè)試方法及裝置”的專利，公開號(hào)CN121324898A，申請(qǐng)日期為2025年11月。專利摘要顯示，本發(fā)明屬于芯片測(cè)試（晶圓測(cè)試）領(lǐng)域，為了解決在電源芯片的測(cè)試過程中，通常需要人工連線，由于連線較多，導(dǎo)致作業(yè)效率較低，而且經(jīng)常出現(xiàn)連線錯(cuò)誤的問題，本發(fā)明提供了一種電源芯片測(cè)試方法及裝置，該裝置包括：連接單元，所述連接單元包括多個(gè)測(cè)試針，所述測(cè)試針與待測(cè)晶圓連接；探針單元，所述探針單元包括多個(gè)探針，通過探針與連接單元連接；測(cè)試電路單元，所述測(cè)試電路單元與探針單元的探針連接，用于發(fā)出測(cè)試信號(hào)；處理單元，用于根據(jù)所述測(cè)試電路單元發(fā)出的信號(hào)，對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行電壓測(cè)試。本發(fā)明中連接單元直接通過探針單元與測(cè)試電路單元連接，不再需要